（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。

儀器水平線性影響（）。

探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。