A.開環(huán)零點(diǎn)
B.開環(huán)極點(diǎn)
C.閉環(huán)零點(diǎn)
D.閉環(huán)極點(diǎn)
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A.越大系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性越好
B.越大系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)特性越好
C.越大系統(tǒng)的阻尼越小
D.越小系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)特性越好
A.實(shí)部為正
B.實(shí)部為負(fù)
C.虛部為正
D.虛部為負(fù)
A.虛軸正半軸
B.實(shí)正半軸
C.虛軸負(fù)半軸
D.實(shí)軸負(fù)半軸
A.ζ=1
B.ζ=0
C.0<ζ<1
D.0≤ζ≤1
A.ζ=1
B.ζ=0
C.0<ζ<1
D.0≤ζ≤1
最新試題
在負(fù)反饋系統(tǒng)中，若開環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個(gè)位于s左半平面的極點(diǎn)，則其根軌跡（）。
系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為（）校正裝置。
PID控制器的特點(diǎn)包括（）。
采用相位超前校正將使系統(tǒng)的增益剪切頻率（）。（選填增大或減?。?/p>
用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì)，所以，在校正裝置設(shè)計(jì)之后，需要進(jìn)行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性，設(shè)計(jì)初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時(shí)需要留出（）。
系統(tǒng)中引入相位超前校正裝置后，系統(tǒng)的（）。
在原點(diǎn)附近增加一對(duì)開環(huán)偶極子，根軌跡的走向和特征根的位置（），所以基本上不改變系統(tǒng)的（）特性，其作用主要是改變系統(tǒng)的（），提高系統(tǒng)的靜態(tài)精度。
在頻率法校正中，串聯(lián)滯后校正的實(shí)質(zhì)是利用校正裝置的（）。
系統(tǒng)的相角裕量越大，超調(diào)越（）；截至頻率越高，快速性越（），抗高頻干擾的能力越（）。
采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對(duì)作用于系統(tǒng)的擾動(dòng)沒有補(bǔ)償作用。（）