A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
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A.0°~38°
B.38°~70°
C.0°~70°
D.45°~60°
A.僅需要去除可能存在裂紋區(qū)域的膠層
B.僅需要去除掃描區(qū)域的膠層
C.僅需要去除底面的膠層
D.去除全部的膠層
A.底波降低
B.雜波增高
C.底波前移
D.底波變寬
A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不小于滿刻度的85%
D.達(dá)到滿刻度
A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不大于滿刻度的95%
D.不大于滿刻度的10%
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
單探頭法容易檢出()。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。