A.Fm
B.Rm
C.Rel
D.As
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A.45HRC
B.40HRC
C.45HRD
D.40HRD
A.局部厚度不小于40µm,平均厚度不小于50µm
B.局部厚度不小于45µm,平均厚度不小于50µm
C.局部厚度不小于40µm,平均厚度不小于55µm
D.局部厚度不小于45µm,平均厚度不小于55µm
A.C2;2;1
B.C3;2;1
C.C2;3;2
D.C3;3;2
A.1個(gè)月
B.3個(gè)月
C.6個(gè)月
D.1年
A.每2年;每1年
B.每1.5年;每1年
C.每1年;每半年
D.每2年;每0.5年
最新試題
各級(jí)物資(分)公司在上級(jí)物資部門的組織下,開展()階段的技術(shù)監(jiān)督工作。
利用手持式X射線熒光光譜分析儀檢測時(shí),到達(dá)作業(yè)現(xiàn)場后,應(yīng)檢查被檢材料和環(huán)境是否存在影響分析結(jié)果的因素,如果有,必須清理干凈。以下屬于這些因素的有()
以下關(guān)于射線檢測特點(diǎn)的敘述,正確的是()
X熒光測厚儀優(yōu)點(diǎn)有()
隔離開關(guān)觸頭、觸指鍍銀層可以采用()檢測。
技術(shù)監(jiān)督工作實(shí)行的原則是()
顯微鏡鍍層測厚法缺點(diǎn)是()
科技部門不負(fù)責(zé)()專業(yè)的全過程技術(shù)監(jiān)督歸口管理工作。
在一般的工業(yè)探傷中,射線與物質(zhì)相互作用時(shí),主要產(chǎn)生的兩個(gè)效應(yīng)是()
采用手持式合金分析儀對(duì)電網(wǎng)材料進(jìn)行光譜分析的主要目的有()