A.已知厚度的大平底零件
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對(duì)比試塊
D.以上都可以
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A.20mm
B.50mm
C.100mm
D.200mm
A.試塊比較
B.試塊計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都可以
A.聲程標(biāo)定法
B.水平標(biāo)定法
C.深度標(biāo)定法
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度小于3N的工件
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
最新試題
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
儀器水平線性影響()。