晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

在體心點陣中，當（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。