掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。