單項選擇題工件底面形狀不同,回波高度也就不同,凸曲面會使反射波發(fā)散,回波()
A.升高
B.降低
C.不變
D.不確定
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1.單項選擇題在檢測晶粒較粗大和大型工件時,應(yīng)測定材質(zhì)的衰減系數(shù),在計算時考慮介質(zhì)衰減的影響,以減?。ǎ┱`差。
A.定量
B.定位
C.水平位置
D.以上都對
2.單項選擇題探頭頻率偏差不僅影響底波調(diào)節(jié)靈敏度,而且影響當(dāng)量的計算法對確定缺陷的()
A.水平位置
B.定量
C.深度
D.大小
3.單項選擇題探頭()影響近場區(qū)長度和波束指向性,因此對定量也有一定的影響。
A.晶片尺寸
B.前沿長度
C.厚度
D.耦合狀態(tài)
4.單項選擇題橫波周向檢測圓筒形工件時,缺陷定位與平板不同,若仍按平板工件處理,那么定位誤差將會()
A.增加
B.減少
C.不變
D.不確定
5.單項選擇題缺陷傾斜時,擴散波束入射至缺陷時回波較高,會誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致()不準(zhǔn)。
A.定性準(zhǔn)確度
B.深度
C.水平
D.定位
最新試題
分辯率可使用通用探傷儀進行測量,測試時儀器抑制置“零”或“開”位,必要時可加匹配線圈。
題型:判斷題
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
題型:判斷題
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。
題型:判斷題
無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
題型:判斷題
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
題型:判斷題
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
題型:判斷題
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
題型:判斷題
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
題型:判斷題
為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
題型:判斷題
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
題型:判斷題