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問答題用X射線衍射法測定CsCl的晶體結構，衍射100和200哪個強度大？為什么？

1.問答題為什么用X射線粉末法測定晶胞參數(shù)時常用高角度數(shù)據（有時還根據高角度數(shù)據外推至θ=90°），而測定超細晶粒的結構時要用低角度數(shù)據（小角散射）？

2.問答題寫出Bragg方程的兩種表達形式，說明（hkl）與hkl，d_（hkl）與d_（hkl）之間的關系以及衍射角θ_n隨衍射級數(shù)n的變化。