問答題為什么用X射線粉末法測定晶胞參數(shù)時常用高角度數(shù)據(jù)(有時還根據(jù)高角度數(shù)據(jù)外推至θ=90°),而測定超細(xì)晶粒的結(jié)構(gòu)時要用低角度數(shù)據(jù)(小角散射)?

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