直接法:粉末顆粒樣品、超薄切片、直接薄膜樣品 間接法:一級復(fù)型、二級復(fù)型 半直接法:萃取復(fù)型.
最新試題
電子束與固體樣品作用時,會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實現(xiàn)的。
在電子探針中,測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡寫為()。
根據(jù)衍襯運動學(xué)原理,理想晶體衍射強度隨()而變化。