A.過程能力足夠好,不需要改進(jìn)
B.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差,同時(shí)調(diào)整過程均值至公差中心
C.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差
D.調(diào)整過程均值至公差中心
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.繪制xbar-R控制圖需要20組以上的數(shù)據(jù),若當(dāng)收集10組數(shù)據(jù)后機(jī)器出現(xiàn)故障,則需等機(jī)器調(diào)試合格后重新采集20組以上數(shù)據(jù)
B.當(dāng)xbar-R控制圖出現(xiàn)失控,工程師應(yīng)該重新修改控制界限
C.xbar-R控制圖中有樣本點(diǎn)失控,則代表所抽取的樣本中有超規(guī)格的產(chǎn)品
D.xbar-R控制圖中沒有樣本點(diǎn)失控,則代表所抽取的樣本都在產(chǎn)品規(guī)格內(nèi)
A.獲得市場上的缺陷數(shù)據(jù)并追蹤改正措施
B.建立最佳流程參數(shù)組合
C.提前預(yù)防失效模式,降低風(fēng)險(xiǎn)
D.針對過程和產(chǎn)品設(shè)計(jì)建立因果分析圖
A.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越高,缺陷率越低
B.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越高,缺陷率越高
C.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越低,缺陷率越低
D.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越低,缺陷率越高
A.F檢驗(yàn)
B.雙樣本t檢驗(yàn)
C.配對檢驗(yàn)
D.雙樣本Z檢驗(yàn)
A.增值活動
B.可以立即取消的非增值活動
C.必要但不增值的活動
D.均不正確
最新試題
在五臺機(jī)器中,按每臺機(jī)器產(chǎn)品的比例來抽樣,這種抽樣稱為()
為保持改善成果,常見的控制措施有()
防錯(cuò)對工廠最重要的好處是()
過程的波動分為隨機(jī)波動和異常波動,以下是隨機(jī)波動的有()
數(shù)據(jù)可分為定性數(shù)據(jù)和定量數(shù)據(jù),對/錯(cuò),通過/未通過之類的信息屬于()數(shù)據(jù)。
以下哪項(xiàng)用于RPN(風(fēng)險(xiǎn)優(yōu)先數(shù))計(jì)算()
表示一組數(shù)據(jù)大小的指標(biāo)有()
不良質(zhì)量成本與西格瑪水平的關(guān)系是()
“我們需要建立一個(gè)新的呼叫中心以應(yīng)對當(dāng)前的通話數(shù)量”,對這個(gè)問題陳述進(jìn)行評論,以下描述正確的是()
要分析影響切割尺寸的各種原因,適用的工具是()