A.50萬(wàn)輛
B.60萬(wàn)輛
C.70萬(wàn)輛
D.90萬(wàn)輛
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A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評(píng)定法
A.是所加電脈沖持續(xù)時(shí)間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對(duì)
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
A.入射縱波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
A.0.2mm
B.0.4mm
C.0.8mm
D.1.6mm
最新試題
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
通常所謂20KV的X射線是指()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。