A.入射縱波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.0.2mm
B.0.4mm
C.0.8mm
D.1.6mm
A.水溫升高,聲速變大
B.水溫升高,聲速變小
C.水溫升高,聲速不變
D.呈波浪型變化
A.波束邊沿最大
B.波束中心最大
C.波束中心與邊沿一樣大
D.與波束寬度成反比
A.圓柱形曲面
B.球形曲面
C.正方形
D.棱形
A.介質(zhì)的密度與彈性
B.質(zhì)點(diǎn)在介質(zhì)中振動(dòng)的方式
C.a和b都是
D.聲阻抗
最新試題
影響較大的散射線通常來(lái)自()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()