A.量具引起的波動
B.操作者與測量對象的交互作用引起的波動
C.測量對象間本身的波動
D.操作者引起的波動
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A.產(chǎn)品內(nèi)的變異是主要變異源
B.產(chǎn)品內(nèi)的變異和產(chǎn)品間變異幾乎相同
C.產(chǎn)品間的變異是主要變異源
D.時間變異是主要變異源
A.過程能力足夠好,不需要改進(jìn)
B.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差,同時調(diào)整過程均值至公差中心
C.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差
D.調(diào)整過程均值至公差中心
A.繪制xbar-R控制圖需要20組以上的數(shù)據(jù),若當(dāng)收集10組數(shù)據(jù)后機(jī)器出現(xiàn)故障,則需等機(jī)器調(diào)試合格后重新采集20組以上數(shù)據(jù)
B.當(dāng)xbar-R控制圖出現(xiàn)失控,工程師應(yīng)該重新修改控制界限
C.xbar-R控制圖中有樣本點(diǎn)失控,則代表所抽取的樣本中有超規(guī)格的產(chǎn)品
D.xbar-R控制圖中沒有樣本點(diǎn)失控,則代表所抽取的樣本都在產(chǎn)品規(guī)格內(nèi)
A.獲得市場上的缺陷數(shù)據(jù)并追蹤改正措施
B.建立最佳流程參數(shù)組合
C.提前預(yù)防失效模式,降低風(fēng)險
D.針對過程和產(chǎn)品設(shè)計建立因果分析圖
A.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越高,缺陷率越低
B.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越高,缺陷率越高
C.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越低,缺陷率越低
D.標(biāo)準(zhǔn)差越大,西格瑪水平越低,缺陷率越高
最新試題
實(shí)施頭腦風(fēng)暴討論會時,首先應(yīng)進(jìn)行創(chuàng)意討論,創(chuàng)意討論應(yīng)當(dāng)注重()
目視化管理即使用眼睛傳遞管理和現(xiàn)場狀態(tài)信息,以下哪一項(xiàng)是目視管理()
以下哪項(xiàng)用于RPN(風(fēng)險優(yōu)先數(shù))計算()
DMAIC路徑中D階段的工作內(nèi)容不包括()
關(guān)于節(jié)拍時間的描述,正確的是()
快速換型中的內(nèi)部時間指的是()
下列關(guān)于改善后試運(yùn)行描述,正確的是()
KANO模型對顧客需求進(jìn)行分類,以下說法正確的有()
以下哪一項(xiàng)是對標(biāo)時要注意的()
因果關(guān)系矩陣不用于()