A.符合測(cè)量對(duì)真偶符合比沒(méi)有要求
B.為保證高的真偶符合比,電子學(xué)分辨時(shí)間小一些好
C.真偶符合比必定是大于1的
D.其他條件不變,源的活度越大則真偶符合比越大
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A.偶然符合在低計(jì)數(shù)率情況下更常見(jiàn)
B.偶然符合的事件同時(shí)發(fā)生且相關(guān)
C.偶然的情況下同時(shí)到達(dá)符合電路的非關(guān)聯(lián)事件引起的符合
D.不相關(guān)的事件都可以認(rèn)為屬于偶然符合
A.符合曲線是指延遲關(guān)系變化時(shí),符合計(jì)數(shù)率的變化曲線
B.信號(hào)的時(shí)間離散對(duì)符合曲線有影響
C.理想的電子學(xué)瞬時(shí)符合曲線是矩形的
D.符合分快符合與慢符合,快符合的符合曲線寬度主要由電子學(xué)分辨時(shí)間決定
A.延遲符合改變了相關(guān)事件發(fā)生的物理過(guò)程
B.延遲符合的順利實(shí)現(xiàn)需要對(duì)相關(guān)事件的物理過(guò)程有深入了解
C.延遲符合功能可以通過(guò)電子學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的
D.相關(guān)事件不同時(shí)時(shí),一般可以考慮利用延遲符合技術(shù)
A.反符合電路利用“或”門(mén)來(lái)實(shí)現(xiàn)
B.反符合中的兩個(gè)事件必須是完全無(wú)關(guān)的
C.反符合的功能可以利用多個(gè)探測(cè)器實(shí)現(xiàn)
D.反符合與符合在電路設(shè)計(jì)、探測(cè)器信號(hào)連接上都完全不同
A.這兩個(gè)或多個(gè)事件的發(fā)生是完全相關(guān)的
B.符合分辨時(shí)間是為方便電子學(xué)實(shí)現(xiàn)而引入的,真符合的事件必定發(fā)生在同一時(shí)刻
C.真符合中的兩個(gè)事件發(fā)生的時(shí)刻可以是近似同時(shí)
D.符合電路利用“與”門(mén)來(lái)實(shí)現(xiàn)
最新試題
改變下列哪項(xiàng)不會(huì)對(duì)活度探測(cè)產(chǎn)生明顯影響?()
下列哪項(xiàng)不是中子探測(cè)的特點(diǎn)?()
測(cè)量活度有相對(duì)法與絕對(duì)法,下列描述錯(cuò)誤的是()。
軔致輻射對(duì)γ能譜的影響,描述錯(cuò)誤的是()。
下列對(duì)于常用的中子探測(cè)器的描述不正確的是()。
常見(jiàn)的241Am-9Be中子源中,9Be的作用是()。
下列哪種中子的波長(zhǎng)最短?()
幾何因素對(duì)探測(cè)器測(cè)量活度的影響描述正確的是()。
關(guān)于24Na-9Be中子源的描述不正確的是()。
下列對(duì)γ能譜的描述,錯(cuò)誤的是()。