A.輸入數(shù)據(jù)取值超出了需求說明書中要求的范圍
B.輸入數(shù)據(jù)長(zhǎng)度超出了控件所允許的長(zhǎng)度
C.輸入數(shù)據(jù)長(zhǎng)度超出了存儲(chǔ)該數(shù)據(jù)的變量所定義的長(zhǎng)度
D.輸入數(shù)據(jù)取值超出了控件所允許的表示范圍
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A.使用等價(jià)類劃分方法設(shè)計(jì)測(cè)試用例的目的是減少測(cè)試用例的數(shù)量
B.針對(duì)某個(gè)功能點(diǎn)中同一等價(jià)類設(shè)計(jì)測(cè)試內(nèi)容相同的測(cè)試用例
C.等價(jià)類中的一個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)能夠替代等價(jià)類中的其他測(cè)試數(shù)據(jù)
D.只能針對(duì)功能點(diǎn)設(shè)計(jì)測(cè)試用例
A.概要設(shè)計(jì)階段
B.詳細(xì)設(shè)計(jì)階段
C.編碼階段
D.需求調(diào)研階段
A.制定軟件測(cè)試計(jì)劃
B.測(cè)試腳本開發(fā)
C.測(cè)試用例設(shè)計(jì)
D.軟件代碼調(diào)試
最新試題
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）
使用QTP軟件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，下面對(duì)其中應(yīng)用描述錯(cuò)誤的是（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開發(fā)人員一起進(jìn)行。
軟件測(cè)試應(yīng)該盡早執(zhí)行，自動(dòng)化測(cè)試也最好在項(xiàng)目初期就開始自動(dòng)化測(cè)試。
軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）