A.固體
B.液體
C.氣體
D.以上都是
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A.λ/2
B.λ/4
C.λ/6
D.λ/8
A.同頻率
B.傳播方向相同
C.相向傳播
D.同振幅
A.波的干涉
B.波的疊加原理
C.波的獨(dú)立性
D.以上都不是
A.機(jī)械波是構(gòu)成介質(zhì)的無(wú)數(shù)質(zhì)點(diǎn)的一種共同運(yùn)動(dòng)形式 B.當(dāng)介質(zhì)發(fā)生振動(dòng)時(shí)，各個(gè)質(zhì)點(diǎn)隨波遷移 C.機(jī)械波向外傳播的是機(jī)械振動(dòng)的形式 D.機(jī)械波的傳播過(guò)程是振動(dòng)能量的傳播過(guò)程
A.振動(dòng)系統(tǒng)在外力作用下發(fā)生的振動(dòng)稱為受迫振動(dòng)
B.物體的受迫振動(dòng)達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，其振動(dòng)的頻率與物體的固有頻率有關(guān)
C.當(dāng)周期性策動(dòng)力的頻率和物體的固有頻率不等時(shí)振幅達(dá)到最大，即產(chǎn)生共振
D.探頭向工件輻射超聲波時(shí)，其頻譜中的最大幅值點(diǎn)的頻率就是探頭的共振頻率
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。