Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。

控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過程控制—SPC。

在繪制控制圖時(shí)，不管采取何種方法，均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控，否則不能計(jì)算過程能力。

變差

正確使用統(tǒng)計(jì)技術(shù)，能達(dá)到早期預(yù)防或及時(shí)提出矯正措施并得以及時(shí)改善的目的。

我們的子組容量都是4。

當(dāng)控制圖中有連續(xù)6點(diǎn)上升或下降時(shí)，說明過程處于（）

1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。

σ

Ppk（性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）