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A、是否偏離正態(tài)分布
B、分布中心是否偏移
C、分布散度是否合適
A、X Chart
B、R Chart
C、S Chart
D、P Chart
A、時(shí)間間隔
B、數(shù)據(jù)來源改變
C、測量誤差
D、測量精度
A、總體標(biāo)準(zhǔn)差
B、樣本標(biāo)準(zhǔn)差
C、各組樣本平均值的標(biāo)準(zhǔn)差
D、各組樣本標(biāo)準(zhǔn)差的平均值
最新試題
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較,而以時(shí)間順序表示出來的圖形)。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制,為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
所有的特殊特性均應(yīng)使用統(tǒng)計(jì)過程控制。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。
當(dāng)過程能力不足時(shí),為提高過程能力,應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
重要過程事件(如工具變更,機(jī)器修理等)須摘記于相應(yīng)之控制圖及/或直方圖上。
在“3σ”原則下,控制點(diǎn)落在µ-3σ到µ+3σ之間的概率是()
特殊特性
第Ⅰ類錯(cuò)誤
當(dāng)控制圖中有連續(xù)6點(diǎn)上升或下降時(shí),說明過程處于()