A.超控制
B.超規(guī)范
C.超警戒
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A.當CHART含蓋混合的工藝設(shè)備輸出,則計算控制線的數(shù)據(jù)包含所有的設(shè)備輸出
B.當過程變差變大時即可重新計算控制線
C.計算控制線時明顯的異常點(如:數(shù)據(jù)輸錯,誤操作等)應(yīng)該去除后再算,以免放寬控制線
A.新設(shè)備加入或設(shè)備移出
B.過程波動變大
C.規(guī)范更改
A.1點超3sigma和連續(xù)7點在中心值一側(cè)
B.1點超3sigma和3點中有2點在A區(qū)或A區(qū)以外
C.1點超3sigma和連續(xù)7點上升或下降
A.12
B.24
C.48
A.25
B.20
C.30
最新試題
Cpk(穩(wěn)定過程的能力指數(shù))
SPC
做初始能力研究時,Cp大于1.33,這臺機器能力可以接受了。
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
在“3σ”原則下,控制點落在µ-3σ到µ+3σ之間的概率是()
過程(Process)
沒有超出控制界限的點,過程能力是可接受的。
Xbar
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較,而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進行控制,為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
當控制計劃要求對相關(guān)工序尺寸進行SPC統(tǒng)計過程控制時,公司相關(guān)部門進行圖控制并進行過程能力研究。