A.相平面法
B.相軌跡法
C.描述函數(shù)法
D.逆系統(tǒng)法
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A.開環(huán)零點(diǎn)
B.開環(huán)極點(diǎn)
C.閉環(huán)零點(diǎn)
D.閉環(huán)極點(diǎn)
A.虛軸上
B.實(shí)軸上
C.以共軛形式成對(duì)出現(xiàn)在復(fù)平面中
D.坐標(biāo)軸上
A.大小相等
B.大小不等
C.方向相同
D.方向相反
A.檢驗(yàn)法
B.頻率法
C.反饋法
D.根軌跡法
A.根軌跡是一種圖解方法
B.根軌跡避免了求解高階系統(tǒng)特征方程的困難
C.根軌跡可以直觀看出系統(tǒng)中某些參數(shù)的變化對(duì)控制系統(tǒng)閉環(huán)特征根分布影響的趨勢(shì)
D.根軌跡在工程上得到了廣泛的應(yīng)用
最新試題
滯后校正能夠在開環(huán)比例系數(shù)不降低的前提下，降低（）頻段和（）頻段的開環(huán)增益而不影響（）頻段。
采用串聯(lián)滯后校正時(shí)，通常可使校正后系統(tǒng)的增益剪切頻率ωc（）。
PID參數(shù)整定方法通常可以分為理論計(jì)算整定法和（）整定法。
微分方程階數(shù)從傳遞函數(shù)中看不出來。（）
前饋校正一般不單獨(dú)使用，總是和其他校正方式結(jié)合起來構(gòu)成（）控制系統(tǒng)，以滿足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。
用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì)，所以，在校正裝置設(shè)計(jì)之后，需要進(jìn)行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性，設(shè)計(jì)初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時(shí)需要留出（）。
關(guān)于動(dòng)態(tài)系統(tǒng)，下列說法錯(cuò)誤的是：（）
對(duì)于最小相位系統(tǒng)G（s）H（s），當(dāng)s沿奈氏路徑從-j0變化到+j0時(shí)，若G（s）H（s）的奈氏曲線以半徑為無窮大順時(shí)針轉(zhuǎn)過π弧度，則該系統(tǒng)的類型為（）。
采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對(duì)作用于系統(tǒng)的擾動(dòng)沒有補(bǔ)償作用。（）
閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開環(huán)極點(diǎn)的積。（）