A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對(duì)靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
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A.相對(duì)靈敏度、時(shí)間域響應(yīng)、噪聲電平
B.聲軸偏斜角、聲束擴(kuò)展特征、距離幅度特征
C.頻率響應(yīng)、分辨力、入射點(diǎn)或折射角
D.以上都是
A.缺陷取向
B.缺陷波幅和傳播時(shí)間
C.缺陷的指示長(zhǎng)度
D.以上都是
A.增加發(fā)射強(qiáng)度
B.使回波的電信號(hào)放大倍數(shù)增加
C.提高晶片振動(dòng)次數(shù)
D.使發(fā)射的聲束尖銳
A.不同埋深的平底孔試塊
B.置于水中的鋼球
C.不同埋深的橫通孔試塊
D.以上都是
A.最有效的超聲能量發(fā)生器之一
B.最有效的超聲能量接收器之一
C.不溶于水
D.可經(jīng)受高達(dá)700℃的高溫
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。