ICP-AES法測定時，（）法是實(shí)際應(yīng)用最廣泛的校正干擾的數(shù)學(xué)法，多數(shù)ICP光譜儀軟件中采用這種方法。

ICP進(jìn)樣裝置的性能對光譜儀的分析性能影響不大。

ICP光譜儀分光裝置的作用是把復(fù)合光按照不同波長展開而獲得光譜。

ICP焰炬的一具有適宜的激發(fā)溫度，能使試樣在此既較充分的原子化、激發(fā)、發(fā)射離子線和原子線，背景發(fā)射光譜強(qiáng)度又較低，一般情況下多用此區(qū)進(jìn)行光譜分析。（）

等離子體是目前最廣泛應(yīng)用的原子發(fā)射光譜光源，主要包括（）、（）和（）。

原子發(fā)射光譜分析過程主要分三步：（）、（）和（）。

ICP-AES分析中，產(chǎn)生連續(xù)背景的因素有（）、（）、（）和（）4種。

ICP光柵光譜儀中采用的色散元件主要有（）、（）、（）3種類型。

電感耦合等離子體焰炬自下而上溫度逐漸升高。

ICP-AES法存在的主要干擾有（）、（）、（）、（）和（）。