A.均勻的漆層
B.薄而均勻的密封膠或防腐涂層
C.鍍層
D.以上都是
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A.對(duì)出現(xiàn)的顯示不能正確評(píng)定；
B.漏掉應(yīng)發(fā)現(xiàn)的裂紋顯示；
C.將非相關(guān)顯示誤判為裂紋顯示；
D.以上都有可能。
A.聲程定位法
B.深度定位法
C.水平定位法
D.寬度定位法
A.聲程相差一倍的兩個(gè)相同反射體回波幅度
B.聲程相同的兩個(gè)反射體回波幅度
C.孔徑相差一倍的兩個(gè)反射體回波幅度
D.以上都可以
A.金屬
B.非金屬
C.復(fù)合材料
D.以上都是
A.工件厚度
B.工件結(jié)構(gòu)
C.背景噪聲
D.以上都是
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
單探頭法容易檢出（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。