單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺(tái)階孔，其目的是方便用于（）
A.測定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測定直探頭盲區(qū)范圍
C.測定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
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1.單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測無切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題平底孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件
3.單項(xiàng)選擇題長橫孔最常用作探測（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件
4.單項(xiàng)選擇題柱孔最常用作（）檢測的參考反射體。
A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外
5.單項(xiàng)選擇題在超聲波檢測中，最適宜以刻槽作為參考反射體探測（）
A.軋制板材中的分層
B.管材縱向裂紋
C.焊縫中的氣孔
D.鍛件的內(nèi)部夾雜物
最新試題
儀器水平線性影響（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題