A.采用較低能量的射線
B.減小散射線
C.選用γ值更高的膠片和采用反差更高的顯影配方
D.選擇最佳黑度
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A.底片黑度
B.膠片顆粒性
C.觀片條件
D.個(gè)人視覺(jué)能力
A.底片質(zhì)量
B.缺陷自身的高度
C.缺陷寬度
D.缺陷與射線束的角度
A.底片上顯示的像質(zhì)計(jì)型號(hào)、規(guī)格應(yīng)正確
B.底片上顯示的像質(zhì)計(jì)擺放應(yīng)符合要求
C.要求清晰顯示鋼絲影像的區(qū)域是指焊縫區(qū)域，熱影響區(qū)和母材區(qū)域則無(wú)此要求
D.如能清晰地看到長(zhǎng)度不小于10mm的像質(zhì)計(jì)鋼絲影像，則可認(rèn)為底片靈敏度達(dá)到該鋼絲代表的像質(zhì)指數(shù)
A.增感屏的屏面應(yīng)保持光滑無(wú)損傷、變形
B.增感屏屏面定期淸潔
C.增感屏與膠片緊密貼合
D.膠片與增感屏之間不能夾雜異物
A.每年至少校驗(yàn)一次
B.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時(shí)校驗(yàn)或重新制作
C.線設(shè)備經(jīng)大修后應(yīng)及時(shí)校驗(yàn)或重新制作
D.制作完成就可以不需校驗(yàn)
最新試題
由于圓柱形工件有一定的曲率，直探頭與工件直接接觸時(shí)，接觸面為一條很寬的條形區(qū)域，從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量，測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開”位，必要時(shí)可加匹配線圈。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí)，而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，會(huì)使定量誤差增加，精度下降。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
缺陷相對(duì)反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
為了減少側(cè)壁的影響，必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量，以便提高定量精度。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波，滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。