A.底片質(zhì)量
B.缺陷自身的高度
C.缺陷寬度
D.缺陷與射線束的角度
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A.底片上顯示的像質(zhì)計型號、規(guī)格應(yīng)正確
B.底片上顯示的像質(zhì)計擺放應(yīng)符合要求
C.要求清晰顯示鋼絲影像的區(qū)域是指焊縫區(qū)域，熱影響區(qū)和母材區(qū)域則無此要求
D.如能清晰地看到長度不小于10mm的像質(zhì)計鋼絲影像，則可認為底片靈敏度達到該鋼絲代表的像質(zhì)指數(shù)
A.增感屏的屏面應(yīng)保持光滑無損傷、變形
B.增感屏屏面定期淸潔
C.增感屏與膠片緊密貼合
D.膠片與增感屏之間不能夾雜異物
A.每年至少校驗一次
B.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時校驗或重新制作
C.線設(shè)備經(jīng)大修后應(yīng)及時校驗或重新制作
D.制作完成就可以不需校驗
A.能很快地滲入細微的開口中去
B.揮發(fā)快
C.能保留在比較大的開口中
D.探傷后容易從零件表面上去除掉
A.為了制定一個裂紋的標(biāo)準(zhǔn)尺寸，這種裂紋可以根據(jù)需要復(fù)制
B.為了確定兩種不同滲透劑的相對靈敏度
C.為了確定滲透劑是否由于污染而失去或降低了熒光亮度
D.為了確定從零件表面上去除滲透劑而不將裂紋中的滲透劑去除掉所需要的清洗程度或洗滌方法
最新試題
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
衍射時差法探傷，當(dāng)有缺陷存在時，在直通波和底面反射波之間，接收探頭會接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流，在外加磁場的作用下，在工件中形成超聲波波源。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時，而又沒有進行適當(dāng)?shù)难a償，會使定量誤差增加，精度下降。
對于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射，缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小，聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點和氣孔等缺陷。