單項(xiàng)選擇題在UT中,探頭晶片尺寸能夠影響()

A.聲束指向角
B.探頭近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.聲束能量和不同深度缺陷的檢出能力
D.以上選項(xiàng)全部


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2.單項(xiàng)選擇題在鍛件超聲波檢測(cè)中,以下哪種方法最常用?()

A.多探頭法
B.斜射橫波法
C.直射縱波法
D.串列式法

3.單項(xiàng)選擇題下列哪些因素會(huì)引起超聲回波幅度不高?()

A.發(fā)射強(qiáng)度過(guò)小
B.超聲衰減嚴(yán)重
C.耦合不好
D.以上都可能

4.單項(xiàng)選擇題調(diào)整超聲檢測(cè)儀器面板上的抑制旋鈕會(huì)影響超聲檢測(cè)儀的()

A.垂直線性
B.動(dòng)態(tài)范圍
C.靈敏度
D.以上選項(xiàng)都對(duì)

5.單項(xiàng)選擇題直接接觸法超聲檢測(cè)中使用耦合劑的作用是()

A.潤(rùn)濕掃查面,使探頭移動(dòng)順利
B.排除探頭楔塊和掃查面之間的空氣,改善耦合條件
C.清洗掃查面,去除污物
D.以上選項(xiàng)都對(duì)

最新試題

縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

儀器水平線性影響()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()是影響缺陷定量的因素。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題