單項(xiàng)選擇題X射線熒光分析法所應(yīng)用的元素固有的熒光X射線波長為()
A.全譜段波長
B.0.001~10nm
C.0.01~120nm
D.0.1~800nm
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1.單項(xiàng)選擇題對鍍銀層厚度測量方法存在質(zhì)疑時(shí),可使用以下哪種方法進(jìn)行驗(yàn)證()
A.庫倫法
B.X射線熒光法
C.高倍顯微鏡法
D.稱重法
2.單項(xiàng)選擇題隔離開關(guān)鍍銀層厚度檢測使用X射線熒光鍍層測厚儀,通過從被檢件上反射的二次X射線強(qiáng)度測量鍍銀層厚度,檢測范圍可達(dá)()µm。
A.0.1-5
B.0.01-5
C.0.1-50
D.0.01-50
3.單項(xiàng)選擇題電網(wǎng)設(shè)備的光譜分析檢驗(yàn)常用哪種設(shè)備()
A.看譜鏡
B.光電光譜分析儀
C.手持式X射線光譜儀
D.熒光光譜儀
4.單項(xiàng)選擇題目前在對隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度的監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí),發(fā)現(xiàn)有生產(chǎn)廠家采用現(xiàn)場刷鍍的方法提高隔離開關(guān)觸頭鍍銀層厚度,以使得鍍銀層厚度達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求。這種方法屬于()采用。
A.電鍍,推薦
B.化學(xué)鍍,推薦
C.電鍍,不推薦
D.化學(xué)鍍,不推薦
5.單項(xiàng)選擇題射線檢測RT是利用X射線、γ射線和中子射線穿透物體后的()程度不同,根據(jù)膠片感光程度的不同來檢測物體()缺陷。
A.增強(qiáng);內(nèi)部
B.增強(qiáng);表面
C.衰減;內(nèi)部
D.衰減;表面
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技術(shù)監(jiān)督工作實(shí)行的原則是()
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