用劈尖干涉法可檢測(cè)工件表面缺陷，當(dāng)波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射時(shí)，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對(duì)應(yīng)的部分應(yīng)：（）

為了提高光學(xué)儀器的分辨本領(lǐng)，通常可以采用的措施有：（）

在相同的時(shí)間內(nèi)，關(guān)于一束波長(zhǎng)為λ的單色光在空氣中和在玻璃中所傳播的路程和走過的光程，下列敘述中哪個(gè)正確？（）

用白光光源進(jìn)行雙縫干涉實(shí)驗(yàn)，若用一個(gè)純紅色的濾光片遮蓋住一條縫，用一個(gè)純藍(lán)色的濾光片遮蓋住另一條縫，則將發(fā)生何種干涉條紋現(xiàn)象？（）

在單縫夫瑯和費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中，若將縫寬縮小一半，則原來第三級(jí)暗紋處將出現(xiàn)的條紋是：（）

在真空中波長(zhǎng)為λ的單色光，在折射率為n的透明介質(zhì)中從A點(diǎn)沿某路徑傳播到（）

波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射到薄膜上，已知n1>n3，如圖所示。則從薄膜上、下兩表面反射的光束①與②的光程差是：（）

在單縫夫瑯禾費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中，波長(zhǎng)為λ的單色光垂直入射在寬度為a=4λ的單縫上，對(duì)應(yīng)于衍射角為30°的方向上，單縫處波陣面可分成的半波帶數(shù)目為：（）

波長(zhǎng)為λ的X射線，投射到晶體常數(shù)為d的晶體上，取k=0，2，3，…，出現(xiàn)X射線衍射加強(qiáng)的衍射角θ（衍射的X射線與晶面的夾角）滿足的公式為：（）

在單縫夫瑯和費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中，屏上第三級(jí)暗紋對(duì)應(yīng)的縫間波陣面，可劃分為半波帶數(shù)目為：（）