A.第一級明紋
B.第一級暗紋
C.第二級明紋
D.第二級暗紋
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A.6.28×10-7m
B.5×10-7m
C.4×10-7m
D.7×10-7m
用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷,當波長為λ的單色平行光垂直入射時,若觀察到的干涉條紋如圖所示,每一條紋彎曲部分的頂點恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切,則工件表面與條紋彎曲處對應的部分應:()
A.凸起,且高度為λ/4
B.凸起,且高度為λ/2
C.凹陷,且深度為λ/2
D.凹陷,且深度為λ/4
用波長為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上,從反射光中觀察干涉條紋,距頂點為L處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大,直到該點處再次出現(xiàn)暗條紋為止(見圖)。則劈尖角的改變量△θ是:()
A.λ/(2L)
B.λ/L
C.2λ/L
D.λ/(4L)
兩塊平玻璃構(gòu)成空氣劈尖,左邊為棱邊,用單色平行光垂直入射。若上面的平玻璃慢慢地向上平移,則干涉條紋如何變化?()
A.向棱邊方向平移,條紋間隔變小
B.向棱邊方向平移,條紋間隔變大
C.向棱邊方向平移,條紋間隔不變
D.向遠離棱邊的方向平移,條紋間隔不變
A.干涉圖樣不變
B.干涉圖樣下移
C.干涉圖樣上移
D.不產(chǎn)生干涉條紋
最新試題
用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷,當波長為λ的單色平行光垂直入射時,若觀察到的干涉條紋如圖所示,每一條紋彎曲部分的頂點恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切,則工件表面與條紋彎曲處對應的部分應:()
波長為λ的X射線,投射到晶體常數(shù)為d的晶體上,取k=0,2,3,…,出現(xiàn)X射線衍射加強的衍射角θ(衍射的X射線與晶面的夾角)滿足的公式為:()
ABCD為一塊方解石的一個截面,AB為垂直于紙面的晶體平面與紙面的交線。光軸方向在紙面內(nèi)且與AB成一銳角θ,如圖所示。一束平行的單色自然光垂直于AB端面入射。在方解石內(nèi)折射光分解為o光和e光,關于o光和e光的關系,下列敘述正確的是?()
自然光以60°的入射角照射到不知其折射率的某一透明介質(zhì)表面時,反射光為線偏振光,則應知折射光和折射角分別為:()
如果兩個偏振片堆疊在一起,且偏振化方向之間夾角呈30°,假設二者對光無吸收,光強為I0的自然光垂直入射在偏振片上,則出射光強為:()
波長為λ的單色平行光垂直入射到薄膜上,已知n1>n3,如圖所示。則從薄膜上、下兩表面反射的光束①與②的光程差是:()
一束光是自然光和線偏振光的混合光,讓它垂直通過一偏振片。若以此入射光束為軸旋轉(zhuǎn)偏振片,測得透射光強度最大值是最小值的5倍,那么入射光束中自然光與線偏振光的光強比值為:()
三個偏振片P1、P2與P3堆疊在一起,P1與P3的偏振化方向相互垂直,P2與P1的偏振化方向間的夾角為30°。強度為I0的自然光垂直入射于偏振片P1,并依次透過偏振片P1、P2與P3,則通過三個偏振片后的光強為:()
自然光以60°的入射角照射到某兩介質(zhì)交界面時,反射光為完全偏振光,則知折射光應為下列中哪條所述?()
為了提高光學儀器的分辨本領,通??梢圆捎玫拇胧┯校海ǎ?/p>