A、耦合不良 B、存在與聲束不垂直的缺陷 C、存在與始脈沖不能分開(kāi)的近表面缺陷 D、以上都可能
A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果 B、對(duì)大于聲束的缺陷,采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果 C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果 D、缺陷定量法之一,和AVG曲線(xiàn)的原理相同
A、窄脈沖 B、衰減 C、波型轉(zhuǎn)換 D、粗晶