單項(xiàng)選擇題直探頭從端部探測細(xì)棒狀工件時，在底波后面出現(xiàn)的遲到波是由于聲束射到工件側(cè)面產(chǎn)生（）所致。
A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
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1.單項(xiàng)選擇題零件的材料組織或密集的細(xì)小缺陷在熒光屏只產(chǎn)生許多小信號顯示叫做（）。
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
2.單項(xiàng)選擇題焊縫斜角探傷時，如采用直射法，應(yīng)該考慮（）等干擾回波的影響。
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
3.單項(xiàng)選擇題在探測工件側(cè)壁附近的缺陷時，由于存在著（），所以探傷靈敏度會明顯偏低。
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對
4.單項(xiàng)選擇題當(dāng)要求探頭有最大靈敏度時（）。
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
5.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到（）。
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對
最新試題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：單項(xiàng)選擇題
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。
題型：單項(xiàng)選擇題
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測中硬度檢驗(yàn)是一種（）方法。
題型：單項(xiàng)選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。
題型：單項(xiàng)選擇題
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
題型：單項(xiàng)選擇題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型：單項(xiàng)選擇題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：單項(xiàng)選擇題
在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
題型：單項(xiàng)選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：單項(xiàng)選擇題