A、波幅增益量
B、缺陷當(dāng)量尺寸
C、距離
D、以上都不對(duì)
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A、遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
B、近場(chǎng)區(qū)
C、過渡區(qū)
D、陰影區(qū)
A、大于實(shí)際尺寸
B、小于實(shí)際尺寸
C、接近實(shí)際尺寸
D、有較大誤差
A、近場(chǎng)區(qū)
B、擴(kuò)散區(qū)
C、非擴(kuò)散區(qū)
D、盲區(qū)
A、表面波
B、板波
C、疏密波
D、剪切波
A、障礙物對(duì)超聲波的傳播幾乎沒有影響
B、波到達(dá)障礙物后形成新的波源向四周發(fā)射
C、超聲波將發(fā)生反射、折射和透射
D、有如射波的反射和透射
最新試題
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
各類渦流檢測(cè)儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
各類渦流檢測(cè)儀器的工作原理和()是相同的。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。