A、θ=57λ/D
B、θ=57λ/b
C、θ=57λ/a
D、B和C都對(duì)
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A、指向性
B、近場(chǎng)區(qū)
C、振速
D、入射
A、正壓電效應(yīng)
B、逆壓電效應(yīng)
C、壓電常數(shù)
D、介電常數(shù)
A、1/2波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長(zhǎng)的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)
A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不對(duì)
A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
最新試題
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈的自感式線(xiàn)圈由()構(gòu)成。
在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí),缺陷波高與缺陷面積成()
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線(xiàn)移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線(xiàn)在缺陷中部時(shí)波高的()
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈的互感線(xiàn)圈一般由()構(gòu)成。
對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線(xiàn)式掃查。
當(dāng)波束中心線(xiàn)與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿(mǎn)足需要的()