A、正壓電效應(yīng)
B、逆壓電效應(yīng)
C、壓電常數(shù)
D、介電常數(shù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、1/2波長的整數(shù)倍時
B、1/2波長的奇數(shù)倍時
C、1/4波長的奇數(shù)倍時
D、1/4波長的整數(shù)倍時
A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不對
A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時
B、1/2波長的奇數(shù)倍時
C、1/4波長的奇數(shù)倍時
D、1/4波長的整數(shù)倍時
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉(zhuǎn)換為電能而吸收
D、以上都可能
最新試題
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為()mm,峰值波長為365mm。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
渦流檢測線圈的互感線圈一般由()構(gòu)成。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
掃查方式一般視試件的()而定。