A.沒(méi)有弛豫，就不會(huì)產(chǎn)生核磁共振
B.譜線(xiàn)寬度與弛豫時(shí)間成反比
C.通過(guò)弛豫，維持高能態(tài)核的微弱多數(shù)
D.弛豫分為縱向弛豫和橫向弛豫兩種
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A.峰的位置
B.峰的裂分
C.峰高
D.積分線(xiàn)高度
A.CH4
B.CH3Br
C.CH3Cl
D.CH3F
A.由于磁的各向異性效應(yīng)，使得乙烯、乙炔質(zhì)子都處在屏蔽區(qū)
B.由于磁的各向異性效應(yīng)，使得乙烯、乙炔質(zhì)子都處在去屏蔽區(qū)
C、由于磁的各向異性效應(yīng)，使乙烯質(zhì)子處在去屏蔽區(qū)，乙快質(zhì)子處在屏蔽區(qū)
D.由于磁的各向異性效應(yīng)，使乙烯質(zhì)子處在屏蔽區(qū)，乙快質(zhì)子處在去屏蔽區(qū)
A.化合物中不同質(zhì)子的種類(lèi)數(shù)
B.同種類(lèi)H的數(shù)目
C.相鄰碳上質(zhì)子的數(shù)目
D.化合物中雙鍵的個(gè)數(shù)及位置
A.屏蔽效應(yīng)較弱，相對(duì)化學(xué)位移較大，共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
B.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng)，相對(duì)化學(xué)位移較小，共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
C.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng)，相對(duì)化學(xué)位移較大，共振峰出現(xiàn)在低場(chǎng)
D.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng)，相對(duì)化學(xué)位移較大，共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
最新試題
X射線(xiàn)熒光光譜分析中，分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定，分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來(lái)水源。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時(shí)用的酸是（）。
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果，只要線(xiàn)性好，平行好，結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池，高量程的池體短，相應(yīng)紅外光程短。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量，分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器，所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
空心陰極燈的安裝，可以不考慮燈腳的位置，裝上即可。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類(lèi)型，它們分別是（）。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線(xiàn)吸收法測(cè)定過(guò)程中，陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用，無(wú)需任何預(yù)處理。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí)，所選擇的光譜分析線(xiàn)是（）。