A.CH4
B.CH3Br
C.CH3Cl
D.CH3F
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.由于磁的各向異性效應(yīng),使得乙烯、乙炔質(zhì)子都處在屏蔽區(qū)
B.由于磁的各向異性效應(yīng),使得乙烯、乙炔質(zhì)子都處在去屏蔽區(qū)
C、由于磁的各向異性效應(yīng),使乙烯質(zhì)子處在去屏蔽區(qū),乙快質(zhì)子處在屏蔽區(qū)
D.由于磁的各向異性效應(yīng),使乙烯質(zhì)子處在屏蔽區(qū),乙快質(zhì)子處在去屏蔽區(qū)
A.化合物中不同質(zhì)子的種類數(shù)
B.同種類H的數(shù)目
C.相鄰碳上質(zhì)子的數(shù)目
D.化合物中雙鍵的個(gè)數(shù)及位置
A.屏蔽效應(yīng)較弱,相對(duì)化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
B.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng),相對(duì)化學(xué)位移較小,共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
C.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng),相對(duì)化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在低場(chǎng)
D.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng),相對(duì)化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
A.掃頻下的高頻,掃場(chǎng)下的高場(chǎng),化學(xué)位移δ值較小
B.掃頻下的高頻,掃場(chǎng)下的低場(chǎng),化學(xué)位移δ值較大
C、掃頻下的低頻,掃場(chǎng)下的高場(chǎng),化學(xué)位移δ值較大
D、掃頻下的低頻,掃場(chǎng)下的高場(chǎng),化學(xué)位移δ值較小
A.化學(xué)位移
B.偶合常數(shù)
C.偶合裂分?jǐn)?shù)
最新試題
玻璃熔融-X熒光光譜法,目前大量應(yīng)用于鐵合金中主次元素的測(cè)定,含量范圍廣,其具有的特點(diǎn)是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測(cè)量的是()。
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀包括()。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過(guò)紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼?lái)檢測(cè)的。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域,即()。
管式爐紅外線吸收法測(cè)定煤中硫含量,根據(jù)朗伯-比爾定律即可求出煤樣中的硫含量。
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。
選用ICP-AES儀器,同時(shí)可以進(jìn)行()。