A.波長位移
B.比色器受污染
C.樣品混濁
D.比色器架沒落位
E.光源老化
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A.采用兩個單色器
B.采用兩束不同波長的單色光
C.可自動扣除背景的影響
D.不用參比溶液,只用一個待測溶液
E.光路中有一個斬波器
A.自動清洗加樣針和試劑探針
B.自動掃描比色皿剔除不合格者
C.比色皿自動沖洗功能
D.應用惰性液膠膜技術減少探針內(nèi)外管壁交叉污染的幾率
E.自動將加完的標本移出
A.用國家計量標準牛頓油
B.剪切率(1~200)s–1范圍內(nèi)測定
C.測定5次以上取均值
D.剪切率(1~5)s–1范圍內(nèi)測定
E.實際測定值與真值的相對偏差<3%
A.要求在絕對恒溫、恒濕的環(huán)境中
B.可安裝在高溫、潮濕的環(huán)境中
C.安裝在溫度15℃~32℃,相對濕度≤85%的環(huán)境中
D.安裝在溫度≤15℃,相對濕度≥85%的環(huán)境中
E.安裝在溫度≥40℃,相對濕度≤85%的環(huán)境中
A.二維條碼
B.條形碼
C.ID芯片
D.圖像處理技術
E.激光技術
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