A.單棟高層建筑勘探點(diǎn)的布置,應(yīng)滿足對地基均勻性評價(jià)的要求,且不應(yīng)少于6個(gè)
B.對密集的高層建筑群,勘探點(diǎn)可適當(dāng)減少,但每棟建筑物至少應(yīng)有1個(gè)控制性勘探點(diǎn)
C.勘探孔深度應(yīng)能控制地基主要受力層,當(dāng)基礎(chǔ)底面寬度不大于5m時(shí),勘探孔的深度對條形基礎(chǔ)不應(yīng)小于基礎(chǔ)底面寬度的3倍,對單獨(dú)柱基不應(yīng)小于1.5倍,且不應(yīng)小于5m
D.對高層建筑和需作變形計(jì)算的地基,控制性勘探孔的深度應(yīng)超過地基變形計(jì)算深度1倍