A.e－2
B.3e－2
C.5e－2
D.7e－2
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A.e－2
B.3e－2
C.5e－2
D.7e－2
A.0.535
B.0.303
C.0.380
D.0.335
A.西格瑪水平Z
B.綜合缺陷數(shù)ZPU
C.單位缺陷數(shù)DPU
D.首次產(chǎn)出率FTY
E.流通合格率RTY
A.E(X)=10
B.E(X)=9
C.Vax(X)=0.3
D.Vax(X)=0.9
E.Vax(X)=0.3
A.2-2Ф(4)
B.1-Ф(4)
C.2Ф(4)
D.2Ф(4)-1
A.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
B.檢驗(yàn)水平Ⅰ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
C.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力高
D.檢驗(yàn)水平Ⅲ比檢驗(yàn)水平Ⅱ判別能力低
E.以上說法都不正確
A.(0，a)
B.(a，b)
C.(0，b)
D.(0，0)
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布，
A.φ(2．08)
B.1-φ(2．08)
C.φ(16．64)
D.1-φ(16．64)
A.0.33
B.0.25
C.1．0
D.0.02
A.t分布的概率密度函數(shù)在整個軸上呈偏態(tài)分布
B.t分布的概率密度函數(shù)在正半軸上呈偏態(tài)分布
C.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布N(0，1)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
D.自由度為n-1的t分布概率密度函數(shù)與二項(xiàng)分布b(n，p)的概率密度函數(shù)的圖形大致類似
最新試題
一元線性回歸方程一定進(jìn)過的點(diǎn)是()。
下面關(guān)于t分布的說法，正確的有（）。
對檢驗(yàn)水平判別能力的高低說法恰當(dāng)?shù)氖牵ǎ?/p>
抽樣檢驗(yàn)不適用于（）。
一個n=3的樣本觀測值8.5，10，11.5中樣本變異系數(shù)為（）。
某公司加工某種規(guī)格的軸，其直徑要求為φ10±o．03(mm)。長期檢驗(yàn)結(jié)果表明，其直徑均值為μ=9．99(mm)，標(biāo)準(zhǔn)差為σ=0.005(mm)。該過程的偏移系數(shù)K為（）。
設(shè)X服從λ=2的泊松分布，則P(X≤1)約為（）。
一鑄件上的缺陷數(shù)X服從泊松分布，每鑄件上的平均缺陷數(shù)是0.5，則：一鑄件上僅有一個缺陷的概率為（）。
已知一批電阻的電阻值服從正態(tài)分布，
從參數(shù)λ=0．4得指數(shù)分布中隨機(jī)抽取樣本量為25的一個樣本，則該樣本均值的標(biāo)準(zhǔn)差為（）