直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

儀器水平線性影響（）。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。