在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

每種晶體物質都有自己特定的晶體結構，晶體結構不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。