單項(xiàng)選擇題在渦流探傷中,如欲得到在非鐵磁性材料管子表面任意位置上的已知缺陷的最佳靈敏度,應(yīng)該()。

A.適當(dāng)選擇頻率
B.使管子在線(xiàn)圈的中心
C.適當(dāng)調(diào)節(jié)相位
D.上述三項(xiàng)都是


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1.單項(xiàng)選擇題用自比穿過(guò)式線(xiàn)圈檢測(cè)一根從頭到尾有均勻?qū)挾群蜕疃鹊拈L(zhǎng)槽的管子將會(huì)產(chǎn)生()。

A.大小不等的信號(hào)
B.一個(gè)持續(xù)不斷的信號(hào)
C.沒(méi)有信號(hào)
D.過(guò)大的信號(hào)

2.單項(xiàng)選擇題一種頻率為60赫的渦流比較儀可測(cè)量下列哪種差異所引起的變化?()

A.尺寸或形狀
B.尺寸牌號(hào)或化學(xué)成分
B.材料加工方式
D.上述三項(xiàng)都是

3.單項(xiàng)選擇題列哪項(xiàng)不是使用標(biāo)準(zhǔn)試樣的主要目的?()

A.確定渦流儀器是否符合檢驗(yàn)的要求
B.確定是否引起報(bào)廢
C.設(shè)定儀器旋鈕位置以保證最高的試樣傳送速度
D.確定儀器靈敏度是否隨著時(shí)間產(chǎn)生漂移

4.單項(xiàng)選擇題下列哪項(xiàng)通??捎脺u流法檢測(cè)?()

A.電導(dǎo)率的測(cè)量或電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率的測(cè)量
B.薄金屬片、包殼或涂層厚度的測(cè)量
C.表面和近表面下缺陷的測(cè)量
D.上述三項(xiàng)都是

5.單項(xiàng)選擇題有一種渦流線(xiàn)圈它既不能對(duì)試樣兩個(gè)部分進(jìn)行比較又不能對(duì)試樣的一個(gè)部分與標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行比較,這種線(xiàn)圈稱(chēng)為()。

A.絕對(duì)式線(xiàn)圈
B.自比差動(dòng)式線(xiàn)圈
C.他比差動(dòng)式線(xiàn)圈
D.上述三項(xiàng)都是

最新試題

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無(wú)遺留問(wèn)題方可進(jìn)行試壓。

題型:判斷題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題

射線(xiàn)檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線(xiàn)圈,其阻抗變大的情況有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

為了提高射線(xiàn)照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

缺陷分類(lèi)應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線(xiàn)照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線(xiàn)照相檢驗(yàn)記錄、射線(xiàn)檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題