A.次級繞組上
B.初級繞組上
C.初級繞組或者次級繞組上，取決于儀器結(jié)構(gòu)
D.初級繞組和次級繞組上
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A.線圈的參數(shù)
B.加到線圈上交流電流的大小
C.加到線圈上交流電流的頻率
D.上述三項都是
A.一個環(huán)繞導(dǎo)體周圍的交變電場
B.一個正切于導(dǎo)體的周期性變化的電壓
C.一個環(huán)繞導(dǎo)體周圍的交變磁場
D.上述三項都不是
A.導(dǎo)體
D.絕緣體
C.導(dǎo)體或者絕緣體
D.鐵磁性材料
A.薄板
B.棒材
C.螺栓孔
D.涂層厚度
A.每一合金的磁導(dǎo)率應(yīng)有唯一范圍
B.每一合金的電導(dǎo)率應(yīng)有唯一范圍
C.每一合金感生的渦流方向應(yīng)不同
D.每一合金磁矩應(yīng)是不同的
最新試題
缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求，標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷，必要時可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。
下面給出的射線檢測基本原理中，正確的是（）。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進行應(yīng)立即（）。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
在射線照相檢驗中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗監(jiān)控確認，檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點，否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進行一次輻射劑量檢測。