單項選擇題雙繞組檢測線圈結(jié)構(gòu)中,一個繞組成為初級繞組,另一個稱為()。

A.絕對式繞組
B.次級繞組
C.相位繞組
D.上述的都不是


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1.單項選擇題下列哪項會影響穿過式線圈的阻抗?()

A.線圈中試樣的電導(dǎo)率
B.線圈中試樣的磁導(dǎo)率
C.填充系數(shù)
D.上述的三項

2.單項選擇題檢驗線圈阻抗的增加將()。

A.引起流過檢驗線圈的電流的增加
B.引起流過檢驗線圈的電流的減少
C.對流過檢驗線圈的電流無影響
D.使加到線圈的電壓降低

5.單項選擇題提離效應(yīng)可用來()。

A.測量磁導(dǎo)率的變化
B.測量電導(dǎo)率的變化
C.測量不導(dǎo)電復(fù)層的厚度
D.確定合適的檢驗頻率

最新試題

觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。

題型:判斷題

X射線檢驗人員負責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:單項選擇題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責(zé)管理。

題型:判斷題

對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

題型:判斷題

像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:單項選擇題

補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責(zé),對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題

為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題