單項(xiàng)選擇題檢測(cè)探頭探到試件上的缺陷時(shí),會(huì)使測(cè)量繞組發(fā)生變化的()。

A.只有電阻
B.只有電抗
C.同時(shí)有電阻和電抗
D.先電阻后電抗


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1.單項(xiàng)選擇題點(diǎn)探頭離試件表面距離變大時(shí),探傷靈敏度()。

A.下降
B.提高
C.不變
D.忽高忽低

3.單項(xiàng)選擇題自比差動(dòng)式穿過式線圈最難檢出()。

A.棒材表面的凹坑
B.線材上的起皮
C.管材上均勻深度的長(zhǎng)裂紋
D.絲材上的夾雜

4.單項(xiàng)選擇題為了提高探頭靈敏度,點(diǎn)探頭繞組是繞于()。

A.矽鋼片上
B.鐵**氧磁心上
C.塑料上
D.不銹鋼上

5.單項(xiàng)選擇題若橋式探頭的各參數(shù)固定不動(dòng),其探到缺陷時(shí),引起橋路有輸出的原因是()。

A.橋臂系數(shù)K
B.橋路臂比A
C.橋路電源E
D.探頭繞組阻抗相對(duì)變化δZ3

最新試題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

X射線檢測(cè)人員健康體檢為每()年一次。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題