A.上須觸線終點(diǎn)為：7；下須觸線終點(diǎn)為：-3.5
B.上須觸線終點(diǎn)為：8.5；下須觸線終點(diǎn)為：-3.5
C.上須觸線終點(diǎn)為：7；下須觸線終點(diǎn)為：-4
D.上須觸線終點(diǎn)為：8.5；下須觸線終點(diǎn)為：-4
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A.不使用不同的測(cè)量員，就不再有“再現(xiàn)性”誤差了。
B.不同的設(shè)定的V值所引起的變異是“再現(xiàn)性”誤差。
C.同一個(gè)設(shè)定的V值，多次重復(fù)測(cè)量同樣一個(gè)機(jī)柜所引起的變異是“再現(xiàn)性”誤差。
D.在不同時(shí)間周期內(nèi)，用此測(cè)電阻儀測(cè)量同一個(gè)機(jī)柜時(shí)，測(cè)量值的波動(dòng)是“再現(xiàn)性”誤差。
A.均值2.0mm；方差0.2
B.均值20mm；方差0.04
C.均值20mm；方差0.4
D.均值20mm；方差4
A：等方差檢驗(yàn)
B：雙樣本T檢驗(yàn)
C：?jiǎn)螛颖綯檢驗(yàn)
A：T檢驗(yàn)
B：成對(duì)數(shù)據(jù)T檢驗(yàn)
C：F檢驗(yàn)
D：方差分析
A.0.4
B.0.5
C.1.4
D.1.5
最新試題
QFD（質(zhì)量功能展開）的首要問題是：（）
我們把（）稱作沿最陡峭路徑執(zhí)行的一系列實(shí)驗(yàn)。
某穩(wěn)定流程的ph值標(biāo)準(zhǔn)差為0.06，要求在6.2~6.6之間。請(qǐng)問此流程可接受的最小的量具的分辨率是多少？（）
下面哪個(gè)是生成響應(yīng)曲面最簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)（）
某個(gè)2水平的全因子DOE設(shè)計(jì)包括4個(gè)因子（其中之一乃離散屬性的）加3個(gè)中心點(diǎn)，6次仿行，請(qǐng)問如果你執(zhí)行Minitab里的Stat>DOE>Factorial>Create Factorial Design..你會(huì)總共得到多少個(gè)運(yùn)行次數(shù)？（）
在某MSA分析中發(fā)現(xiàn)其容差百分比為60%，不滿足MSA要求，黑帶考慮利用重復(fù)測(cè)量降低MSA誤差，以繼續(xù)使用原測(cè)量系統(tǒng)。請(qǐng)問，要將容差百分比降低到20%，最少要重復(fù)測(cè)量多少次（）
下列關(guān)于假設(shè)檢驗(yàn)的說明，其中錯(cuò)誤的是：（）
在穩(wěn)健參數(shù)設(shè)計(jì)領(lǐng)域，現(xiàn)在公認(rèn)較好的試驗(yàn)與建模方法有兩種不同類型：一種是（）進(jìn)行位置與散度建模，另一種是用（）進(jìn)行響應(yīng)建模。
小李計(jì)算在受控狀態(tài)下流程的Cp和Cpk：Cp=3.20andCpk=3.15．一個(gè)月后小李重新計(jì)算的結(jié)果為：Cp=3.20andCpk=0.67.小李應(yīng)該：（）
對(duì)于具有3σ控制限的Xbar-R圖來說，原來子組樣本含量為3，后來重新設(shè)計(jì)控制圖，子組樣本量為5，將會(huì)導(dǎo)致什么樣的結(jié)果（）