A、稠度
B、凝結(jié)時間
C、碳化深度
D、泌水率
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A、同一檢驗批只進行一組試驗時,應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的平均值作為檢驗結(jié)果
A、同一檢驗批只進行一組試驗時,應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、同一檢驗批進行了一組以上試驗時,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的平均值作為檢驗結(jié)果
A、對于同一檢驗批只進行一組試驗的檢驗項目,應(yīng)將試驗結(jié)果作為檢驗結(jié)果
B、對于同一檢驗批進行了一組以上試驗的檢驗項目,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最小值作為檢驗結(jié)果
C、對于同一檢驗批進行了一組以上試驗的檢驗項目,應(yīng)取所有組試驗結(jié)果中的最大值作為檢驗結(jié)果
D、對于同一檢驗批進行了一組以上試驗的檢驗項目,應(yīng)按不同的性能項目取所有組試驗結(jié)果中的最小值或最大值作為檢驗結(jié)果
A、同一檢驗批砼的強度等級、齡期、生產(chǎn)工藝和配合比應(yīng)相同
B、對于同一工程、同一配合比的砼,檢驗批不應(yīng)少于一個
C、對于同一檢驗批,設(shè)計要求的各個檢驗項目應(yīng)至少完成一組試驗
D、對于同一檢驗批,設(shè)計要求的各個檢驗項目應(yīng)至少完成三組試驗
A、耐久性檢驗評定的項目及其等級應(yīng)根據(jù)施工要求確定
B、對于需要進行耐久性檢驗評定的砼,其強度應(yīng)滿足設(shè)計要求
C、耐久性檢驗評定的依據(jù)是《砼強度檢驗評定標準》GB/T50107-2010標準
D、耐久性檢驗評定的項目及其等級應(yīng)根據(jù)設(shè)計要求確定
最新試題
PN結(jié)的基本特性是()
屬于晶體缺陷中面缺陷的是()
多晶硅的生產(chǎn)方法主要包含:()1)冶金法2)硅烷法3)重摻硅廢料提純法4)西門子改良法5)SiCl4法6)氣液沉淀法7)流化床法
可用作硅片的研磨材料是()
鑄造多晶硅中的氧主要來源不包括()
原子晶體中的原子與原子之間的鍵能隨原子間距的而迅速()
下列選項中,對從石英到單晶硅的工藝流程是()
與半導(dǎo)體相比較,絕緣體的價帶電子激發(fā)到導(dǎo)帶所需的能量()
直拉法生長單晶硅拉晶過程有幾個主要階段?()
對于同時存在一種施主雜質(zhì)和一種受主雜質(zhì)的均勻摻雜的非簡并半導(dǎo)體,在溫度足夠高、ni>>/ND-NA/時,半導(dǎo)體具有()半導(dǎo)體的導(dǎo)電特性。